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数字电路测试若干关键技术技巧在微处理器测试中的应用
CCF科学技术奖
二等奖
数字电路测试若干关键技术技巧在微处理器测试中的应用
完成单位：中国科学院计算技术研究所
主要完成人：李晓维
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