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数字电路测试若干关键技术技巧在微处理器测试中的应用

CCF科学技术奖

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二等奖

数字电路测试若干关键技术技巧在微处理器测试中的应用 

完成单位:中国科学院计算技术研究所

主要完成人:李晓维

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