魏道政

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魏道政


魏道政

中国科学院计算技术研究所 研究员



  魏道政,1929年7月生,我国计算机电路测试和容错计算领域的开拓者之一,长期从事计算机辅助测试和容错计算等方面的研究工作。

  70年代初期,他利用布尔差分法在计算机上自动产生了013机大量插件的测试码,使国内首次成功实现了计算机插件的自动测试。此后,他在实践基础上提出的测试产生算法——主路径敏化法,发展和统一了当时国际上著名的“D-算法”和“布尔差分法”,显著提高了计算效率,是70年代电子测试技术领域具有里程碑意义的成果,在计算机电路测试领域做出了系统性和创造性的重大贡献。

  鉴于魏道政研究员为中国计算机事业的发展做出的卓越贡献,CCF奖励委员会决定将2019年“CCF终身成就奖”授予他,以表彰他的成就和贡献。

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